本文摘要：调试ARM，要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种。当建模时，IAR、KEIL、ADS等都有一个公共的调试模块,RDI就是其中的一种，那么我们如何已完成RDI--ARM调试协议(JTAG)的切换呢？有以下两种作法： 1.在电脑上写一个服务程序，把IAR、KEIL和ADS中的RDI命令解析成涉及的JTAG协议，然后通后一个物理切换模块（留意，这个切换只是电气物理层上的切换，就像RS232那样的起到）发送到你的的目标板。H-JTAG就是这样的。

调试ARM，要遵循ARM的调试接口协议,JTAG就是其中的一种。当建模时，IAR、KEIL、ADS等都有一个公共的调试模块,RDI就是其中的一种，那么我们如何已完成RDI--ARM调试协议(JTAG)的切换呢？有以下两种作法：　　1.在电脑上写一个服务程序，把IAR、KEIL和ADS中的RDI命令解析成涉及的JTAG协议，然后通后一个物理切换模块（留意，这个切换只是电气物理层上的切换，就像RS232那样的起到）发送到你的的目标板。H-JTAG就是这样的。H-JTAG的硬件就仅有是一个物理电平的切换模块，所以很非常简单。

而电脑中装的h-JTAG软件就是前面说到的服务程序，负责管理协议切换的。　　2.做到一个板，用此板必要接管来自IAR、KEIL和ADS等软件的调试命令，由此板做到RDI-JTAG协议的切换。

然后与目标板通信，这就是JLINK的工作原理。　　由上可以显现出H-JTAG由于是软件不作协议切换的，所以速度较快，但是硬件非常简单。而第二种方法的JLINK一般带上一个强大的CPU，不作硬件协议切换，把以硬件简单，但速度快。　　JTAG的基本原理　　JTAG(JointTestActionGroup，牵头测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE1149．1相容)。

标准的JTAG模块是4线TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式自由选择、时钟、数据输出和数据输入线。　　JTAG的主要功能有两种，或者说JTAG主要有两大类：　　1）一类用作测试芯片的电气特性，检测芯片否有问题；　　2）另一类用作Debug，对各类芯片以及其外围设备展开调试；一个所含JTAGDebug模块模块的CPU，只要时钟长时间，就可以通过JTAG模块采访CPU的内部寄存器、悬挂在CPU总线上的设备以及内置模块的寄存器。

本文主要讲解的是Debug功能。　　JTAG原理分析　　非常简单地说道，JTAG的工作原理可以归结：在器件内部定义一个TAP(TestAccessPort，测试采访口)，通过专用的JTAG测试工具对内部节点展开测试和调试。

首先讲解一下边界扫瞄和TAP的基本概念和内容。　　边界扫瞄　　边界扫瞄(Boundary-Scan)技术的基本思想是在附近芯片的输出/输入插槽上减少一个移位寄存器单元，也就是边界扫瞄寄存器(Boundary-ScanRegister)。　　当芯片正处于调试状态时，边界扫瞄寄存器可以将芯片和外围的输出/输入隔绝出去。

通过边界扫瞄寄存器单元，可以构建对芯片输出/输入信号的仔细观察和掌控。对于芯片的输出插槽，可以通过与之连接的边界扫瞄寄存器单元把信号(数据)读取到该插槽中去；对于芯片的输入插槽，也可以通过与之连接的边界扫瞄寄存器捕捉该插槽上的输入信号。在长时间的运营状态下，边界扫瞄寄存器对芯片来说是半透明的，所以长时间的运营会受到任何影响。

这样，边界扫瞄寄存器获取了一种便利的方式用作观测和掌控所须要调试的芯片。另外，芯片输出/输入插槽上的边界扫瞄(移位)寄存器单元可以相互连接一起，在芯片的周围构成一个边界扫瞄链(Boundary-ScanChain)。

边界扫瞄链可以串行地输出和输入，通过适当的时钟信号和掌控信号，就可以便利地仔细观察和掌控处在调试状态下的芯片。

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